楼主      问题： 请问：微处理器监控复位电路809的测试 发布时间： 2006-4-27 上午8:38
作者： Henry 等级： 学有小成 积分： 429 分 发送消息 查看用户的所有发言		近两年来，我研究了很多公司的微处理器监控复位电路（Microprocessor Reset Circuits)，如Max809/810/705、FM809、IMP809、LM809、TCM809、TPS3809，这系列电路关键参数是阈值检测电压和延迟时间（典型值240ms)。在wafer级测试时，每个die的测试时间由于固有延迟时间的存在而变得较长，加上阈值检测电压的修调时间可能达到600~800ms/die，这会增加中测的成本。不知为什么在这些大公司的IC芯片上并没有发现设计加速测试的测试点。我们国内也有很多公司做出了相兼容的产品，不知高人们能否提供一下类似产品减少测试时间的方法。谢谢！

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第 1 楼      回复主题：请问：微处理器监控复位电路809的测试 发布时间： 2006-6-2 上午8:57
作者： york 等级： 青铜大侠 积分： 2211 分 发送消息 查看用户的所有发言		我不是很清楚，但我猜想应该是封完后，再筛选吧，这样废品率很低。类似一些无源器件的筛选吧。只是个人想法，希望真正了解的行家给出正确的答案。

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第 2 楼      回复主题：请问：微处理器监控复位电路809的测试 发布时间： 2006-6-2 下午2:35
作者： hehe 等级： 初入江湖 积分： 102 分 发送消息 查看用户的所有发言		这种芯片都有测试模式的，进入测试模式后，其他功能不变但延时电路被屏蔽掉，测试就会很快了

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第 3 楼      回复主题：请问：微处理器监控复位电路809的测试 发布时间： 2006-6-5 下午4:12
作者： liuxiang 等级： 初入江湖 积分： 152 分 发送消息 查看用户的所有发言		免费提供美国BCD公司的复位电路809的样品 有需要: 请联系MSN:shic_ee@hotmail.com 13371957499

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第 4 楼      回复主题：请问：微处理器监控复位电路809的测试 发布时间： 2007-10-16 下午11:41
作者： 钱宏文 等级： 初入江湖 积分： 102 分 发送消息 查看用户的所有发言		没有测试模式，但有测试点，在测试点测内部计数器的振荡频率；然后在该点加入高频信号（前级输出阻抗较大），测试内部延迟计数器是否正常。

钱宏文 编辑于 2007-10-16 下午11:42 鲜花 ( 0 ) 臭鸡蛋 ( 0 )     回复    引用

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