a. 穿透元器件内部薄的绝缘层,损毁MOSFET和CMOS元器件的栅极(常见)。b. CMOS器件中的触发器锁死(常见)。c. 短路反偏的PN结(常见)。d. 短路正向偏置的PN结(少见)。e. 熔化有源器件内部的焊接线或铝线(少见)。
A5.使用带塑料轴的开关和操纵杆,或将塑料手柄/套子放在上面来增加路径长度。避免使用带金属固定螺丝的手柄。
A6.将LED和其它指示器装在设备内孔里,并用带子或者盖子将它们盖起来,从而延伸孔的边沿或者使用导管来增加路径长度。 A7.延伸薄膜键盘边界使之超出金属线12mm,或者用塑料企口来增加路径长度。 A8. 将散热器靠近机箱接缝,通风口或者安装孔的金属部件上的边和拐角要做成圆弧形状。 A9. 塑料机箱中,靠近电子设备或者不接地的金属紧固件不能突出在机箱中。
A10. 如果产品不能通过桌面/地面或者水平耦合面的间接ESD测试,可以安装一个高支撑脚使之远离桌面或地面。 A11.在触摸橡胶键盘上,确保布线紧凑并且延伸橡胶片以增加路径长度。 A12.在薄膜键盘电路层周围涂上粘合剂或密封剂。 A13.在机箱箱体接合处,要使用耐高压硅树脂或者垫圈实现密闭、防ESD、防水和防尘。
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